光热弱吸收测量仪通过泵浦光与探测光的协同作用，实现材料微弱吸收的精准探测。其工作原理：
光热透镜法：当强激光照射到样品上时，样品吸收激光能量并将其转化为热能，导致样品本身及周围介质的温度升高，进而引起折射率的变化，使得透镜的焦距发生改变，产生类似透镜的效果。通过测量探测光束经过样品后的光强变化或光束畸变程度，来确定样品的弱吸收特性。
光热偏转法：强激光照射下，材料内部因吸收热能产生折射率梯度现象(热透镜效应)，当一束探测光经过 “热透镜” 效应区域时会发生位置偏移，利用 PSD 位移传感器测量其位置偏移量，从而计算出样品的吸收系数。
光热弱吸收测量仪的应用：
光学材料研究：用于评估激光晶体、光学玻璃、光学薄膜等材料的弱吸收特性，为材料的研发、筛选和优化提供重要依据，有助于提高光学材料的质量和性能，满足高能激光系统、光通信等领域的需求。
激光技术：在高功率激光器的设计和制造中，测量光学元件的弱吸收，对于评估激光器的性能、稳定性和抗激光损伤能力至关重要，有助于优化激光器的结构和参数，提高激光器的输出功率和光束质量。
半导体行业：可用于测量半导体材料和器件的光吸收特性，研究半导体材料的光学性质、杂质浓度、缺陷等，对于半导体器件的研发、生产和质量控制具有重要意义。
