载流子扩散长度测量系统采用的SSPG技术可用于测量纳米~微米范围的载流子扩散长度LD，有机薄膜材料（Bulk-Hetero-Junction有机材料和钙钛矿材料）的测量已由LGEP成功验证，同时被验证的包括硅基薄膜材料（例如：非晶硅、微晶硅和多晶硅）。