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光热弱吸收测量仪用一束强度被调制的泵浦激光照射被测样品，样品吸收光能后产生微量热效应，引起局部折射率变化、热膨胀或表面形变。再用另一束探测光读取这些热效应引起的信号变化，通过标定换算即可得到样品的吸收率数值。
技术指标：
吸收率检测范围：部分机型可达到0.1ppm乃至更低，国产设备目前已能覆盖1ppm级常规需求。
适用样品：光学镀膜镜片、激光晶体、非线性晶体、红外窗口材料、半导体衬底等。
测量波长：多配1064nm、532nm等常用激光波长，也可按客户激光系统定制。
选型要点：
测薄膜还是体材料：薄膜吸收优先看面吸收灵敏度；晶体/玻璃看体吸收灵敏度。
是否需要区分体/面吸收：做镀膜工艺分析时，这个功能很关键。
泵浦波长是否匹配：1064/532/355nm较常见；深紫外、中红外需定制。
灵敏度等级：常规弱吸收1ppm级够用；超低损耗元件建议看0.1ppm/cm级。
扫描能力：若要做吸收均匀性、缺陷定位，需支持二维面扫描。
环境与安装：这类仪器对振动、灰尘、温度较敏感，通常建议放在光学平台或稳定实验环境中。
