OLED光谱分析系统用于测量OLED、钙钛矿LED及其其他发光器件的发射光谱特性和极化角，同时也可测量器件的s和p偏振光谱、发射光谱与角度的关系，计算出发射层中激子的发光角度及位置分布。 一、OLED光谱分析系统优势:
1)可测量单只0LED的色品坐标、色温、显色性指数、色容差、峰值波长、主波长、色纯度、半宽度、色比、光谱分布、光通量、光辐射功率、温度等参数，满足CIE对光和颜色测量要求。
2)光谱扫描速度快(10S)。
3)系统能自动描绘OLED的光通量/功率/电压/电流随时间的变化曲线(光衰)。
二、系统构成:
1)光谱分析系统软件。
2)光谱分析系统。
3)光纤。
4)积分球。
5)通用标准光源(校准用)。
6)精密数显直流稳流稳压电源。
