OLED光谱分析系统用于测量OLED、钙钛矿LED及其其他发光器件的发射光谱特性和极化角，同事也可测量器件的s和p偏振光谱、发射光谱与角度的关系，计算出发射层中激子的发光角度及位置分布。
OLED光谱分析系统主要测试功能：
1、OLED效率测量/外量子效率EQE测量，流明效率Lm/W 和 发光效率Cd/A；
2、发射角度测量；
3、光谱&颜色测量@发射角；
4、CIE xyY测量；
5、视角测量；
6、IVL(电流—电压—亮度)测量；
7、PL光致发光测量功能（有机、量子点、钙钛矿薄膜发射光谱和极化角度）；
8、EL电致发光测量功能（OLED\钙钛矿LED和其他发光器件）；
9、极化测量；
10、发射角对应的光谱和颜色；
11、可与Setfos组合，随发射层进行分析；
12、拟合发光器件的发射区、分子取向和发光方向。
