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PLED中μs到Hours时间尺度上的电子陷阱动力学研究

 更新时间:2022-08-29 点击量:804
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聚合物发光二极管中的电子陷阱动力学
Matthias Diethelm, Michael Bauer, Wei-Hsu Hu, Camilla Vael, Sandra Jenatsch, Paul W. M. Blom, Frank Nüesch and Roland Hany*

本文研究了Super Yellow(SY) PLEDs在电学Stress脉冲作用下时间尺度跨越长达8数量级的电子陷阱动力学特征,其中使用Paios光电瞬态特性测量系统表征PLED器件的陷阱动力学,并且借助Setfos模拟仿真软件对器件性能进行全面仿真

主要内容
应用于光电器件的半导体聚合物正被广泛研究,包括溶液处理发光二极管(PLEDs)。聚合物中的电荷陷阱限制了电荷传输,从而限制了PLED的效率。电子传输受到普遍电子陷阱密度的阻碍,而空穴陷阱的形成则决定了PLEDs的长期退化。在这里,我们研究了从微秒到(几个)小时的时间长度下,PLEDs对电子驱动和中断的响应,从而聚焦于电子陷阱。作为参考聚合物,使用了一种称为yellow(SY)的phenyl-substituted poly(para-phenylene vinylene) (PPV)共聚物。确定了三种不同的陷阱,深度≈0.4~0.7eV,总陷阱位置密度≈2×1017cm-3令人惊讶的是,深陷阱的填充时间需要几分钟到几个小时,这与通常认为电荷捕获需要几百微秒就可以完成的概念不同。以poly(2-methoxy-5-(2-ethylhexyloxy)-1,4-phenylene vinylene (MEH-PPV) and poly(3-hexylthiophene) (P3HT)为活性物质,证实了PLEDs的慢陷阱填充特性。这种不寻常的现象可以用陷阱释放后失效和陷阱缓慢再激活来解释。这些结果提供了有用的见解,以查明半导体聚合物中普遍电子陷阱的化学性质。

产品推荐-Paios光电瞬态特性测量系统
系统整合了DC,AC和瞬态测试模式,用于表征太阳能电池/OLED器件载流子迁移率、载流子寿命和浓度、载流子动力学过程、掺杂和陷阱分布等性能,对器件的瞬态性能进行全面分析。
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产品推荐-Setfos模拟仿真软件
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