原位薄膜应力测试仪，又名薄膜残余应力测试仪或薄膜应力仪，是专门用于测试和研究薄膜材料和薄膜制备工艺的*的工具。
薄膜中应力的大小和分布对薄膜的结构和性质有重要的影响，可导致薄膜的光、电、磁、机械性能改变。例如，薄膜中的应力是导致膜开裂或与基体剥离的主要因素，薄膜中存在的残余应力很多情况下影响MEMS器件结构的特性，甚至严重劣化器件的性能，薄膜的内应力对薄膜电子器件和薄膜传感器的性能有很大的影响.因此，薄膜应力研究在薄膜基础理论和应用研究中起到重要的作用，薄膜应力的测量备受关注。原位薄膜应力测试仪再例如在硬质薄膜领域，金属氮化物、氧化物、碳化物等硬质薄膜因具有优越的耐磨、耐腐蚀等特性，被广泛应用于金属材料的防护．硬质薄膜的主要制备方法包括物理气相沉积和化学气相沉积技术．研究发现，沉积态硬质薄膜中存在较大的残余应力，而且沿层深分布不均匀；该残余应力对硬质薄膜一基体系统的性能影响很大，较准确地测量硬质薄膜的残余应力，系统研究它与沉积工艺的关系，对优化硬质薄膜基体系统的性能具有重要的意义。
原位薄膜应力测试仪产品功能和特点：
1.自动采集分析数据功能；
2.自动扫查样品边缘，定位样品中心；
3.自动计算出曲率半径值和薄膜应力值；
4.对原始表面不平直的基片表面的薄膜，可采取原位测量的方式，计算薄膜应力值。
