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载流子扩散长度测量系统

描述:载流子扩散长度测量系统采用的SSPG技术可用于测量纳米~微米范围的载流子扩散长度LD,有机薄膜材料(Bulk-Hetero-Junction有机材料和钙钛矿材料)的测量已由LGEP成功验证,同时被验证的包括硅基薄膜材料(例如:非晶硅、微晶硅和多晶硅)。

更新时间:2021-01-07
产品型号:
厂商性质:代理商
详情介绍
品牌其他品牌价格区间面议
产地类别进口应用领域环保,化工,生物产业,能源,电子

载流子扩散长度测量系统

应用领域:

-有机太阳能电池:Bulk-Hetero-junctions, polymers and others
-无机太阳能电池:a-Si, a-SiGe, μc-Si
-钙钛矿太阳能电池:Hybrid perovskite layers used for PV
-有机半导体:according to transport and absorption properties
-无机半导体:according to transport and absorption properties

 

测量功能:

- 少数载流子和多少载流子:Mobility x lifetime product <μt> 
- 少数载流子扩散长度LD
- 可测量少数载流子和多少载流子寿命
- 激发能测量(当选择温度控制选件)

 

产品特色:

  1. 可量测单一像素点的量子效率。
  2. 可量测全数组像素量子效率。
  3. 可产生各种所需单色光均匀光源,自动化校正各单色光、特定单色光入射光子数。
  4. 可量测CRA特性(选配)
  5. 软件可配合用户需求修改(选配)。
  6. 为全自动化设计,操作简易。

 

载流子扩散长度测量系统系统优势:
*QE-IS系统采用光焱科技研发多年的单色光均光系统具备下列多项优势:
*高均匀度
*可产生高均匀度的单色光光斑,在10x10mm2面积内均匀度可以>99%,在20x20mm2面积内仍可维持在>98%。与积分球系统相较,具有更佳的均匀度表现。
*高光强度、高讯噪比
*QE-IS高效率均光系统,以550nm单色光为例,在QE-IS系统光均面的光强度可>5 uW/cm2,相较于积分球系统的单色光强仅1x10-8 uW/cm2,两者差距千万倍,QE-IS系统量测具备的讯噪比,可测出感光组件的量子效率等相关光学特性。 
*可作单像素QE量测
*因QE-IS单色光强度足够(5 uW/cm2@550nm),打在1 um的像素单元,产生的光电流约在20 pA,相较于积分球系统产生的单一像素光电流在sub-fA以下,QE-IS系统可直接用于量测数组感光组件上,任何单一像素的量子效率。 
*可作全数组像素QE量测
*除单一像素量测,QE-IS可整合或是被整合于使用者自行开发的感光组件的数字电路讯号,以量测全数组像素QE。 
*可作CRA量测
*QE-IS的均匀单色光发散角度< 5度,相较积分球的发散角度 >90度,搭配选配的旋转平台,即可量测CRA(Chief Ray Angle)特性。无需额外添购系统,方便整体的量测。

 

 

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