d33 压电系数测试仪，其分辨率可达0.01pC/N，采用多种测量模式，在测量压电系数的同时，可记录d31, d15, 电容、电量、tan δ等参数，并也可计算g33、介电常数和εT33等。可用于铁电、压电材料以及相关器件性能的评价与测试；

电容充放电测试仪，详细说明：目前常规电滞回线测试设备在高压下测量电容能量密度存在的问题：待测样品上的电荷被放回到高压电源，而不是一个有效有意义的负载。

高压漏电流及热释电测量系统，详细说明：美国Polyk Technologies公司研发了高压漏电流和热释电测量系统，对于研发高能量密度和功率介电材料很有帮助！

电滞回线及高压介电击穿强度测试系统基于改进优化的动态Sawyer-Tower电路开发的该系统，用于测量介电和铁电材料的电荷密度与电场及频率的关系；

低温宽频介电测量系统当通过LCR Meter或者分析仪（Agilent/Keysight 4284A, E4980A,4294A）测量介电常数时，加载电压通常1V左右；然而，很多压电陶瓷（PZT）和高分子（PVDF）对于加载的电场具有非线性响应；通常它们的介电常数和损耗因子在高压下变得更低。