低温宽频介电测量系统当通过LCR Meter或者分析仪（Agilent/Keysight 4284A, E4980A,4294A）测量介电常数时，加载电压通常1V左右；然而，很多压电陶瓷（PZT）和高分子（PVDF）对于加载的电场具有非线性响应；通常它们的介电常数和损耗因子在高压下变得更低。

高场宽频谱介电测量系统当通过LCR Meter或者分析仪（Agilent/Keysight 4284A, E4980A,4294A）测量介电常数时，加载电压通常1V左右；然而，很多压电陶瓷（PZT）和高分子（PVDF）对于加载的电场具有非线性响应；通常它们的介电常数和损耗因子在高压下变得更低。

高分子压电系数测试仪其分辨率可达0.01pC/N，采用多种测量模式，在测量压电系数的同时，可记录d31, d15, 电容、电量、tan δ等参数，并也可计算g33、g31和g15，介电常数和εT33等。用于铁电、压电、高分子薄膜材料以及相关器件性能的评价与测试；