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高压漏电流及热释电测量系统

描述:高压漏电流及热释电测量系统,详细说明:美国Polyk Technologies公司研发了高压漏电流和热释电测量系统,对于研发高能量密度和功率介电材料意义重大!

更新时间:2021-01-07
产品型号:
厂商性质:代理商
详情介绍
品牌其他品牌价格区间面议
产地类别进口应用领域环保,化工,生物产业,能源,电子

高压漏电流及热释电测量系统

开发背景:
1)在高能量密度和功率电容中,漏电流对于功率损耗和热击穿意义重大;
2)依据ASTM D257测试标准,很多商用材料的电阻率在短时间(60s)低电场(<1V/um)下通常被测量;相比之下,很多电容运行电场往往>100V/um,并且电导率随电场呈指数增加;因此这些材料的数据与实际应用关联不大;
3)在高电场和高温下测量高分子薄膜的漏电流很具有挑战性:
   -电流达到pA(10e-12A)量级,因此周围环境的干扰必须完全被屏蔽;
   -在长期高压下测试,介电液可能变得导电,因此测试必须在无介电液的空气中进行,很多试样在空气中有很低的介电击穿强度,而且长时间(>1h)高电场(>100V/um)下测试就非常困难;
   -高分子薄膜通常比较软,而且很容易被电极损坏,因此非常困难的测试这种样品(厚度<10um)在>100V/um电场下;

高压漏电流及热释电测量系统

测试系统功能及配置:
1)pA测量单元:Keithley 6517(6514)或者类似的仪表,需配备同轴疲敝电缆;
2)高压单元:SRS PS350 或者Trek Voltage 10kV;
3)温度范围:-150℃ to >250℃,带液氮冷却;
4)全屏蔽测试箱体,绝缘安装在腔体门内侧,便于装载样品;
5)高压加载通过弹簧加载的球电极,即保证良好的电接触,又不会损坏软的高分子薄膜样品;
6)pA电流测量已经被印证,通过<5um电容薄膜在高场(200V/um)下测试>20h无介电击穿;
7)试样大小:up to 8cm直径;
8)该系统也可用于热激发激化电流测量或者热释电电流;
9)模块化设计,测试腔室也可以用于介电和高压测试系统;

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