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产地类别 | 进口 | 应用领域 | 环保,化工,生物产业,能源,电子 |
OLED光谱分析系统
我公司推出OLED器件和钙钛矿LED发射角度光谱分析系统(OLED光谱分析仪)、载流子迁移率测量系统、电学性能评估系统以及软件模拟研发系统,为广大科研工作者和研发机构提供了有力的测试工具。
OLED光谱分析系统用于测量OLED、钙钛矿LED及其其他发光器件的发射光谱特性和极化角,同事也可测量器件的s和p偏振光谱、发射光谱与角度的关系,计算出发射层中激子的发光角度及位置分布。
主要测试功能:
OLED效率测量/外量子效率EQE测量,流明效率Lm/W 和 发光效率Cd/A;
发射角度测量;
光谱&颜色测量@发射角;
CIE xyY测量;
视角测量;
IVL(电流—电压—亮度)测量;
PL光致发光测量功能(有机、量子点、钙钛矿薄膜发射光谱和极化角度)
EL电致发光测量功能(OLED\钙钛矿LED和其他发光器件);
极化测量;
发射角对应的光谱和颜色
可与Setfos组合,随发射层进行分析
拟合发光器件的发射区、分子取向和发光方向
主要技术规格:
角度范围:-85°~+85°;
光谱范围:360nm~880nm,分辨率1.2nm;
电压范围:±20V
电流范围:±120mA,最小分辨电流100pA
电压偏振器:0~360°(连续)
样品台尺寸:40mm*40mm²