OLED光谱分析系统

OLED光谱分析系统

我公司推出OLED器件和钙钛矿LED发射角度光谱分析系统（OLED光谱分析仪）、载流子迁移率测量系统、电学性能评估系统以及软件模拟研发系统，为广大科研工作者和研发机构提供了有力的测试工具。

OLED光谱分析系统用于测量OLED、钙钛矿LED及其其他发光器件的发射光谱特性和极化角，同事也可测量器件的s和p偏振光谱、发射光谱与角度的关系，计算出发射层中激子的发光角度及位置分布。

主要测试功能：
        OLED效率测量/外量子效率EQE测量，流明效率Lm/W 和 发光效率Cd/A；
        发射角度测量；
        光谱&颜色测量@发射角；
        CIE xyY测量；
        视角测量；
        IVL(电流—电压—亮度)测量；
        PL光致发光测量功能（有机、量子点、钙钛矿薄膜发射光谱和极化角度）

        EL电致发光测量功能（OLED\钙钛矿LED和其他发光器件）；
        极化测量；

        发射角对应的光谱和颜色

        可与Setfos组合，随发射层进行分析

        拟合发光器件的发射区、分子取向和发光方向

主要技术规格：
        角度范围：-85°~+85°；
        光谱范围：360nm~880nm，分辨率1.2nm;

        电压范围：±20V

        电流范围：±120mA，最小分辨电流100pA

        电压偏振器：0~360°（连续）

        样品台尺寸：40mm*40mm²