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OLED光谱分析系统

描述:OLED光谱分析系统,详细说明:
我公司推出OLED器件和钙钛矿LED发射角度光谱分析系统(OLED光谱分析仪)、载流子迁移率测量系统、电学性能评估系统以及软件模拟研发系统,为广大科研工作者和研发机构提供了有力的测试工具。

更新时间:2021-01-07
产品型号:
厂商性质:代理商
详情介绍
品牌其他品牌价格区间面议
产地类别进口应用领域环保,化工,生物产业,能源,电子

OLED光谱分析系统

我公司推出OLED器件和钙钛矿LED发射角度光谱分析系统(OLED光谱分析仪)、载流子迁移率测量系统、电学性能评估系统以及软件模拟研发系统,为广大科研工作者和研发机构提供了有力的测试工具。

OLED光谱分析系统用于测量OLED、钙钛矿LED及其其他发光器件的发射光谱特性和极化角,同事也可测量器件的s和p偏振光谱、发射光谱与角度的关系,计算出发射层中激子的发光角度及位置分布。

主要测试功能:
        OLED效率测量/外量子效率EQE测量,流明效率Lm/W 和 发光效率Cd/A;
        发射角度测量;
        光谱&颜色测量@发射角;
        CIE xyY测量;
        视角测量;
        IVL(电流—电压—亮度)测量;
        PL光致发光测量功能(有机、量子点、钙钛矿薄膜发射光谱和极化角度)

        EL电致发光测量功能(OLED\钙钛矿LED和其他发光器件);
        极化测量;

        发射角对应的光谱和颜色

        可与Setfos组合,随发射层进行分析

        拟合发光器件的发射区、分子取向和发光方向

主要技术规格:
        角度范围:-85°~+85°;
        光谱范围:360nm~880nm,分辨率1.2nm;

        电压范围:±20V

        电流范围:±120mA,小分辨电流100pA

        电压偏振器:0~360°(连续)

        样品台尺寸:40mm*40mm²

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