OLED发光效率测量系统

OLED发光效率测量系统

应用：
    有机发光器件OLED
    量子点LED
    钙钛矿LED等

主要测试功能：
        OLED效率测量/EQE测量，功率效率Lm/W 和电流效率 Cd/A；
        发射角度-光谱测量；
        光谱&颜色测量@发射角；
        CIE xyY和显色指数CRI；
        可视角测量；
        IVL(电流—电压—亮度)测量；
        PL光致发光和EL电致发光测量；
        p，s极性测量；

OLED发光效率测量系统主要技术规格：
        角度范围：-85°~+85°；
        光谱范围：360nm~880nm，分辨率1.2nm;

➢ 主要测量功能：
     * 大功率点MMP、FF、Voc、Isc、VS 光强，迁移率（I-V测试 & I-V-L测试，空间电荷限制电流SCLC法）
     * 载流子密度，载流子动力学过程（瞬态光电流法 TPC）
     * 载流子寿命，载流子符合动力学过程（瞬态光电压/瞬态开路电压法 TPV）
     * 载流子迁移率（暗注入瞬态法 DIT，单载流子器件&OLED）
     * 串联电阻，几何电容，RC时间（电压脉冲法 Pulse Voltage）
     * 参杂密度，电容率，串联电阻，载流子迁移率（暗态线性增加载流子瞬态法 Dark-CELIV）
     * 载流子迁移率，载流子密度（光照线性增加载流子瞬态法 Photo-CELIV）
     * 载流子复合过程，朗之万函数复合前因子（时间延迟线性增加载流子瞬态法 Delaytime-CELIV）
     * 不同工作点的载流子强度，载流子迁移率（注入线性增加载流子瞬态法 Injection-CELIV）
     * 几何电容，电容率（MIS线性增加载流子瞬态法 MIS-CELIV）
     * 陷阱强弱度，等效电路（阻抗谱测试 IS）