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OLED发光效率测量系统

描述:OLED发光效率测量系统,我公司推出OLED光谱性能测试系统,OLED发射光谱测量系统,OLED光谱分析仪,OLED光电性能测试系统(IVL曲线,外量子效率EQE),OLED载流子迁移率测量系统、光电性能评估系统以及软件模拟研发系统,为广大科研工作者和研发机构提供了有效的测试工具。

更新时间:2021-01-07
产品型号:
厂商性质:代理商
详情介绍
品牌其他品牌价格区间面议
测量模式交流产地类别进口
应用领域环保,化工,生物产业,能源,电子

OLED发光效率测量系统

应用:
    有机发光器件OLED
    量子点LED
    钙钛矿LED等

主要测试功能:
        OLED效率测量/EQE测量,功率效率Lm/W 和电流效率 Cd/A;
        发射角度-光谱测量;
        光谱&颜色测量@发射角;
        CIE xyY和显色指数CRI;
        可视角测量;
        IVL(电流—电压—亮度)测量;
        PL光致发光和EL电致发光测量;
        p,s极性测量;

OLED发光效率测量系统主要技术规格:
        角度范围:-85°~+85°;
        光谱范围:360nm~880nm,分辨率1.2nm;

 

➢ 主要测量功能:
     * 最大功率点MMP、FF、Voc、Isc、VS 光强,迁移率(I-V测试 & I-V-L测试,空间电荷限制电流SCLC法)
     * 载流子密度,载流子动力学过程(瞬态光电流法 TPC)
     * 载流子寿命,载流子符合动力学过程(瞬态光电压/瞬态开路电压法 TPV)
     * 载流子迁移率(暗注入瞬态法 DIT,单载流子器件&OLED)
     * 串联电阻,几何电容,RC时间(电压脉冲法 Pulse Voltage)
     * 参杂密度,电容率,串联电阻,载流子迁移率(暗态线性增加载流子瞬态法 Dark-CELIV)
     * 载流子迁移率,载流子密度(光照线性增加载流子瞬态法 Photo-CELIV)
     * 载流子复合过程,朗之万函数复合前因子(时间延迟线性增加载流子瞬态法 Delaytime-CELIV)
     * 不同工作点的载流子强度,载流子迁移率(注入线性增加载流子瞬态法 Injection-CELIV)
     * 几何电容,电容率(MIS线性增加载流子瞬态法 MIS-CELIV)
     * 陷阱强弱度,等效电路(阻抗谱测试 IS)

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