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OLED发光效率测量系统

描述:OLED发光效率测量系统,我公司推出OLED光谱性能测试系统,OLED发射光谱测量系统,OLED光谱分析仪,OLED光电性能测试系统(IVL曲线,外量子效率EQE),OLED载流子迁移率测量系统、光电性能评估系统以及软件模拟研发系统,为广大科研工作者和研发机构提供了有效的测试工具。

更新时间:2024-04-23
产品型号:
厂商性质:代理商
详情介绍
品牌其他品牌价格区间面议
测量模式交流产地类别进口
应用领域环保,化工,生物产业,能源,电子

OLED发光效率测量系统


产品名称:OLED/LED电致发光/光致发光测量系统,EL/PL测量系统,多角度光谱测量系统,发光效率测量系统,发光光谱测量系统,外量子效率测量系统。


Phelos用于测量OLED、钙钛矿LED及其他发光器件的发射光谱特性和极化角,同时也可测量器件的s和p偏振光谱、发射光谱与角度的关系,计算出发射层中激子的发光角度及位置分布。


技术优势

• 角度依赖的PL光致发光谱分析

• 角度依赖的EL电致发光谱分析

• 角度依赖的发光分析

• 兼容顶发光和底发光结构的OLED的及其他发光器件

• p- and s-偏振态检测

• 偏振角度连续扫描

• 发光层中发光偶极子检测及偶极子趋向分析

• 兼容各种几何尺寸样品

• 样品便捷对准

• 可与Setfos结合,对发光层进行分析


OLED发光效率测量系统

测量功能

• 颜色效率分析

• 可视角分析

• 量子效率EQE

• 流明效率lm/W

• 发光效率Cd/A

• 发光区域拟合

• 发光趋向分析

• 发光特性角度依赖分析

• 光谱和颜色VS. 发射角

• 发光层中偏振态分析

• 散射特性分析

• 工作点

• 效能 (cd/A)

• CIE 坐标

• 色温和显色指数等分析

• 电流-电压-亮度(J-V-L)曲线测量

• 光谱辐照度/强度

• 辐射强度

• 亮度


技术规格

Photoluminescence and Electroluminescence

角度范围

-90° to +90°, top and bottom emission

角度分辨率

< 0.5°

光谱范围

360 to 1100 nm

光谱分辨率

2.5 nm *

信噪比

300:1

电压范围

± 20 V

电流范围

± 120 mA

*小分辨电流

< 100 pA

伺服偏振器

0 to 360° (continuous)

样品台尺寸

40 x 40 mm²

PL 激发光

275 nm to 405 nm(默认365nm)

PL 激发光光斑

5 x 3 mm²

设备重量

18 kg

设备尺寸

50 x 29 x 24 cm³






测试模式

OLED发光效率测量系统


测量实例


OLED发光效率测量系统


OLED发光效率测量系统


OLED发光效率测量系统


OLED发光效率测量系统


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